Title:
Verfahren und System zum Abwinkeln einer visuellen Inspektionsvorrichtung
Kind Code:
T5


Abstract:
Es werden Verfahren, Systeme und computerlesbare Medien zum Abwinkeln von visuellen Inspektionsvorrichtungen bereitgestellt. Ein Verfahren kann beispielsweise das Empfangen einer Inspektionsvorlage durch ein Steuerungssystem aufweisen, welches mit der visuellen Inspektionsvorrichtung in Beziehung steht. Die Inspektionsvorlage kann Daten einschließen, welche mit wenigstens einem interessierenden Punkt in einer Szene in Beziehung stehen, welche für die visuelle Inspektionsvorrichtung sichtbar ist. Das Verfahren kann zudem das Erzeugen eines Abwinkelungspfades durch das Steuerungssystem basierend auf den Daten aufweisen. Das Verfahren kann auch das Betätigen eines elektromechanischen Systems der visuellen Inspektionsvorrichtung entsprechend dem Abwinkelungspfad aufweisen.



Inventors:
STANCATO NICHOLAS ANTHONY (US)
STANCATO MELISSA ROSE (US)
COOMBS KEVIN ANDREW (US)
WACLAWSKI JOSEPH JOHN (US)
DELMONICO JAMES J (US)
MAULE BRYAN DAVID (US)
LAVIN DENNIS (US)
PANKOW MATTHEW WILLIAM (US)
Application Number:
DE112017002965T
Publication Date:
05/02/2019
Filing Date:
06/14/2017
Assignee:
GEN ELECTRIC (Schenectady, N.Y., US)
International Classes:
Attorney, Agent or Firm:
Rüger Abel Patent- und Rechtsanwälte (Esslingen, DE)