Title:
Messgerät zur Messung von Oberflächenprofilen in Hohlräumen
Kind Code:
A1


Abstract:
Beim Stand der Technik wird im Allgemeinen auf Messung von Innengeometrie und Oberflächenprofil verzichtet und die Bewertung erfolgt durch optische Inspektion und Bildauswertung. Eine berührungslose Messung von Oberflächenprofilen in engen Hohlräumen ist beim Stand der Technik nicht vorgesehen. Beim Stand er Technik sind einige taktile Messverfahren bekannt.Es wird in dieser Anmeldung ein Messgerät (1) zur berührungslosen Messung von Innengeometrie und Oberflächenprofile in Hohlräumen, Innenräumen und Röhren mit großer Genauigkeit beschrieben.Das Messgerät (1) besteht aus einer Ringlichtquelle (2) welche vorzugsweise ein Ringlaser ist, einer Kamera (3) und mindestens einem Umlenkmodul z.B. in der Ausführung eines Kegelspiegel (8), welche sich in einer transparenten Röhre (5) befinden. Die Ringlichtquelle (2) strahlt eine schmale Linie ringförmige ab, die durch das Umlenkmodul radial zur messenden Oberfläche (7) abgelenkt wird. Das reflektierte Licht (30) der zu messenden Oberfläche (7) wird durch die Kamera (3) aufgenommen und durch Triangulation die Oberfläche berechnet.Das Messgerät (1) kann in allen Hohlräumen eingesetzt werden. Es eignet sich besonders zur Oberflächenmessung von Röhren, Bohrungen, Innenräumen.



Inventors:
NOLL ALBRECHT (DE)
WEIRICH BASTIAN (DE)
Application Number:
DE102017004475A
Publication Date:
11/15/2018
Filing Date:
05/10/2017
Assignee:
Noll, Albrecht
Weirich, Bastian
Domestic Patent References:
DE102011016852A1N/A2012-10-11
DE102009043523A1N/A2011-04-07
Foreign References:
67884112004-09-07
201300275152013-01-31
CN104568983B2017-03-15
Other References:
CN 104 568 983 B maschinelle Übersetzung (c) SIPO
Attorney, Agent or Firm:
Noll (Groß-Umstadt, DE)